بررسی خواص اپتیکی فیلم نازک ضد انعکاسی zns بر روی زیر لایه ge در ناحیه طول موجی 8-12 میکرومتر

لایه نشانی از علوم پرکاربرد در صنعت به شمار می آید. تکنولوژی ساخت ادوات خاص این تکنیک در سال های اخیر پیشرفت چشم گیری داشته است، به طوری که دقت بالای این وسایل باعث افزایش مشهود کیفیت لایه ها گردیده است. ما در این تحقیق، در ابتدا به معرفی کامل ملزومات آزمایشگاه لایه نشانی خواهیم پرداخت و شیوه های متنوع لایه نشانی مرسوم را مورد مطالعه قرار خواهیم داد. در کنار استفاده از این وسایل، تسلط کافی پژوهشگر از مباحث نظری لایه نشانی ضروری به نظر می رسد، چرا که از این طریق می توان نتایج هر آزمایش را با استفاده از این روابط پیش بینی نمود و باعث بهبود کیفیت نمونه ها گردید. این روابط در فصل دوم از این تحقیق به طور کامل ارائه و مورد مطالعه قرار خواهند گرفت. در این فصل با ماتریس های انتقال آشنا خواهیم شد. این ماتریس ها دارای ویژه مقادیری می باشند که بیان کننده ی عبور و انعکاس در تئوری لایه ها ی نازک هستند. با استفاده از این ماتریس ها قادر خواهیم بود که به سادگی به انجام محاسبات طولانی، درصد عبور و انعکاس را برای هر تعداد لایه و برای هر نوع ماده ی مورد استفاده به سادگی محاسبه نماییم. در فصل سوم از این تحقیق به مطالعه ی جامع و کامل مواد مورد استفاده در لایه نشانی مورد نظر در این تحقیق پرداخته ایم و موادی همچون سولفیدروی و ژرمانیوم را از نظر خواص اپتیکی مورد تحقیق قرار خواهیم داد. ضریب شکست، ضریب جذب و درصد عبور این مواد برای دماهای مختلف و ضخامت های متفاوت لایه ها در این فصل مورد مطالعه قرار گرفته است. نهایتاً در فصل چهارم به تحقیق نتایج آزمایش لایه نشانی سولفید روی برروی زیرلایه ی ژرمانیوم پرداخته و آن را به طور کامل مورد تحقیق قرار خواهیم داد. در این فصل خواص اپتیکی همچون میزان عبور لایه ها و طیف پراش اشعه ی ایکس نمونه ها مورد تحقیق قرار خواهد گرفت. خواص اپتیکی و فیزیکی این لایه ها برحسب عواملی همچون آهنگ لایه نشانی، دمای بازپخت نمونه ها و در کل به شرایط حاکم بر لایه نشانی به دست آورده شده است. علاوه براین دو ماده ی mgf2 و yf3به عنوان لایه ی واسط در لایه نشانی سولفیدروی برروی زیرلایه ی ژرمانیوم و شیشه، مورد استفاده قرار گرفته است و نتایج حاصل از به کارگیری آنها در ساخت لایه ها ارائه شده است.